网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
资料首页最新产品 技术参数 电路图 设计应用 解决方案 代理商查询 IC替换 IC厂商 电子辞典
关键字: 技术文章 PDF资料 IC价格 电路图 代理商查询 IC替换 IC厂商 电子辞典

Particle Measuring Systems公司推出新款粒子监控设备 生产能力提高10倍以上

  Particle Measuring Systems公司日前推出了一款台式粒子监控系统Surfex 100M,该设备结合了超声波分离、颗粒测量、高纯度流体技术,吞吐量是传统方法的10倍以上,节省了时间和成本。

  该设备专为小型复杂器件、不规则状零件、消费电子、及各式元器件的颗粒测量而设计,结合SamplerSight软件完成颗粒的计数。

  Particle Measuring Systems在粒子监测及分子沾染监测方面拥有35年的专业经验,提供可靠的产品和服务。

热门搜索:TLM815NS SUPER6OMNI D SBB400 N060-002 2858043 LED12-C2 TR-6FM PS361220 8300SB1 BT151S-800R118 02C1001JF TLP808NETG 02T1001JF TLP606B SBBSM2120-1 TLM615SA 02T0500JF ADS1013IDGSR 01M1002SFC2 SBB830 ADC128S102CIMTX 02B5000JF TLM825SA 2818135 SBB1605-1
COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
(北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质