Sapphire D-10荣获“Best in Test Award” 奖项

    科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的”Best in Test award”（译：最佳测试奖）奖项。

    Sapphire D-10是下一代成本敏感型消费类芯片测试系统。Sapphire D-10是一款极紧凑的测试系统，它采用先进科技，集成了更多更好的特性功能。Sapphire D-10的设计充分地考虑了不管是量产测试还是工程验证的不同测试要求。

    《测试与测量世界》主编Rick Nelson说：2006年度Best in Awards奖项只颁给那些能给测试界带来重大技术革新的新产品。我们的编辑之所以选择科利登的Sapphire D-10做为该奖项的获奖者是因为该款系统综合了高速的数据交换网络，基于FPGA的高度灵活性以及高密度的CMOS集成来提高系统测试各种消费类芯片的产能和效率。

    科利登系统公司总裁兼首席执行官Dave Ranhoff（中文名:任永浩）说：我们非常高兴能荣获该奖项。做为一种革新的测试系统设计理念，并结合科利登的先进技术，Sapphire D-10迅速地获得了全世界市场的接受和认可。事实上，该系统首先在北美和亚洲的多个IDM和 OSAT工厂被采用正好证明了它在降低内置MCU，显示驱动控制和无线基带芯片测试成本时的重大成果。