Cadence发布新版Encounter Test，具备新型数据压缩性能

　　Cadence公司宣布，凭借其最新的数据压缩以及成品率诊断性能，该公司正不断扩展在测试和成品率诊断领域的技术先导地位。新版Cadence Encounter Test通过为非专有的片上异或(XOR)测试数据压缩结构提供更广泛的支持，解决在制造高品质硅芯片过程中的费用上涨问题。此新型数据压缩性能增强了自动化测试矢量生成(ATPG)和诊断产品之间的多厂商互操作性，并支持使用一站式诊断流程。 

　　这种新型测试功能在输入端采用了基于XOR发散网络扇出的解压缩技术，而在输出端则使用带有可选的不定态屏蔽功能的XOR树状压缩技术。对于被Cadence Encounter Test用户广泛使用的高效OPMISR+(产品内的多输入签字寄存器)体系来说，这种技术无疑能够使之更为强大。任何一种压缩体系都可以很方便地嵌入到Encounter Test Architect中去，该产品曾获得2005年Test & Measurement World杂志评选出来的最佳测试奖。 

　　此外，在导致成品率损耗的设计中，Encounter Test Diagnostics性能实现了由逻辑域到物理结构定位的扩展。而这些结构则通过一个新型、直观、易于使用以及全功能的物理浏览器显示出来。此浏览器能够在诊断标注和网点之间迅速建立关联，包括它的金属层次，以及周围的过孔和接触孔，从而加速了物理故障分析(PFA)。 

　　Cadence Encounter Test是Cadence Encounter数字IC设计平台的一项关键技术，帮助行业实现了从逻辑设计到硅芯片的最先进的测试解决方案。这项新技术现已全面上市。