半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(Verigy Ltd.)针对V93000 SoC测试机台推出Port Scale射频(RF)测试解决方案。惠瑞捷针对V93000 SoC测试系统开发Port Scale射频测试解决方案是为了解决无晶圆厂半导体设计公司、整合组件制造商、以及半导体委外封装及测试公司目前和未来的需求。
可提供快速架构
Port Scale射频测试解决方案的设计采用固态半导体组件，因此所有的射频资源都集中在V93000的测试头中。不同于其它采用速度慢的外接设备的解决方案，Port Scale是以高速的固态半导体组件为基础所设计的射频测试解决方案，完全不会减损速度、性能或测量准确度。
这套解决方案可以配置12、24或48个射频测端口，只要配备了24个射频测试端口，即可提供真正四点同测(Quad-site)的能力，而其高效率的多点(Multi-site)并行测试能力也解决了高整合度组件需要更多测试端口的测试问题，具有高测试效率，可将测试成本降到最低。Port Scale射频测试解决方案具备的高性能、准确又稳定的测量能力、以及低噪声底线(低至-161dBm/Hz)可满足越来越严苛的性能、良率及成本要求。
加快上市时间
Port Scale射频测试解决方案可提供完全整合的模拟和射频测试能力与测试流程，以及可逐步进行的调试工具，能缩短测试开发时间。惠瑞捷新增了快速又准确的“单键” 执行功能，可进行智能型校准，并且采用Eclipse软件环境，可以检视动作中的硬件运作情形，让使用者通过简单明了的图形，查看射频测量模块图，并可将射频测试设定输出为测试方法的样版。采用固态半导体组件的射频设计加上V93000独特的水冷式架构在大部分开发阶段的测试计划中，都不需要进行校准。
先进的硬件让性能更上一层楼
可插入惠瑞捷V93000测试头使用的单槽模块卡每平方公分包含的功能居业界之冠，有助于缩小测试系统的体积和降低成本。Port Scale射频测试解决方案包含下列模块卡及套件：
