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NanoLab选用SEMICAPS SOM 4000光学扫描系统 为客户提供更好的光学失效定位服务

  提供半导体失效分析 (failure analysis)设备与解决方案供应商SEMICAPS Pte Ltd日前宣布,NanoLab Technologies向公司购买了一套SEMICAPS SOM 4000光学扫描显微镜系统用于先进光学失效定位(optical fault localization)。

  SEMICAPS SOM 4000是目前业界最先进的故障定位系统,专为满足design debug、产品工程(product engineering)、良率增强以及失效分析等需求而设计。SOM 4000系统具有便携的基座与探针台模块,可灵活用于完整12寸晶圆、部分晶圆或封装器件的前端与后端分析。

  NanoLab Technologies位于加州Sunnyvale,日前与Presto Engineering公司达成合作协议,为其提供全套半导体工程化、测试和分析服务,帮助改善产品开发的速度和效率,并最大程度降低新品上市的成本。NanoLab将利用SOM 4000系统给客户提供更好的服务。

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