Synopsys发布DESIGN COMPILER 2007 助力设计人员提高生产效率及IC性能

      全球领先的电子设计自动化（EDA）软件工具领导厂商 Synopsys 今日发布了最新版 Design Compiler 综合解决方案—— Design Compiler 2007。新版本扩展了拓扑技术，以加速采用先进低功耗和测试技术的设计收敛，帮助设计人员提高生产效率和 IC 性能。
　　拓扑技术可帮助设计人员正确评估芯片在综合过程中的功耗，在设计早期解决所有功耗问题。此外，还支持 Design Compiler 2007 中新的测试压缩技术，在实现高质量测试的同时，减少测试时间和测试数据量超过 100 倍，并减少后续物理实现阶段由于测试电路带来的可能的布线拥塞。
　　Hisilicon 设计经理黄涛表示：“采用拓扑技术，综合阶段的性能预测与物理实现结果的一致性保持在 5%的偏差范围以内。Design Compiler 2007 能够在实现通讯设计的高要求性能目标的同时，平均节省 5% 芯片面积。与布局的紧密相关确保了卓越的性能，这正是设计者快速将有竞争力的产品推向市场所必需的。”
　　拓扑技术使综合的实现结果和物理实现的结果具有紧密的一致性，这避免了在实现设计收敛过程中的在 RTL 综合和物理布局之间的耗时反复。Design Compiler 与 Galaxy 设计平台物理设计解决方案共享技术和架构，可以实现 RTL 到 GDSII 过程的一致和高度可预测性。 
　　Cypress 数据通信部设计总监 Don Smith 表示：“Cypress 曾经遇到过相互冲突的测试目标，当时我们需要实现高测试覆盖率，而我们的测试设备相对落后，而且只有极少可用引脚和有限的存储器。我们评估了 Synopsys 的自适应扫描测试压缩技术，并在不到一天的时间里就部署到了我们的流程中。根据得到的结果，我们确信能够利用现有测试设备架构，提供最高质量的产品。”
　　Design Compiler 2007 采用了多项创新综合技术，如自适应retiming和功耗驱动门控时钟，性能较以前版本平均提高 8%，面积减少 4%，功耗降低 5%。此外，Synopsys Formality 等效检测解决方案得到了增强，能够独立、彻底地验证这些技术，因此设计者无需舍去验证就可以实现更高的性能。
　　Synopsys 设计产品集团高级副总裁兼总经理 Antun Domic 表示：“在当今的设计环境中，每项设计都面临一系列不同的实现挑战，要保证可预测硅的成功，就必须克服这些困难。Design Compiler 2007 的先进技术将帮助设计师通过最快速、最可预测的路径完成他们艰难的芯片设计目标。”
      关于Design Compiler
　　Design Compiler RTL 综合解决方案包括先进的优化、完善的低功耗管理、完整可测性设计（DFT）/自动测试样本生成（ATPG）、无缝形式验证、以及丰富的知识产权（IP）组件库。Design Compiler 2007 即将供货。