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Aries的RF测试插座在高带宽下的信号损耗小

    Aries电子公司推出28mm至40mm²器件适用的高频测试插座。这款新推出的RF插座可用于手动测试间距仅为0.50mm的器件,产品的速度可达1GHz至18GHz。这些新型插座接收CSP、MicroBGA、DSP、LGA、SRAM、DRAM和闪存器件。

  
   
这种高频插座的信号通路为1.95mm,在高带宽下的信号损耗小。插座的大小为89.08×69.85×44.68mm,可为电路板元件及连接器提供更大空间。无需焊接的压力安装弹簧探头便于将插座从测试板上拔插。镀镍弹簧螺钉可在器件底部留下可见的标记,能用两个焊接塑料调整引脚精确定位,并固定在四个不锈钢螺钉上。  

    四点弹簧探头净化了焊球氧化物上,便于更可靠地接触匹配,可与LGA、MLF和其它插座一起使用。这些压缩弹簧探头采用加热铍铜合金。该插座的铸模元件符合UL94V-0 PEEK要求,所以硬件均为不锈钢。  

    间距为0.50mm至0.75mm的中心定位插座的接触力为每引脚9g至12g,0.8mm以上的为17g至20g。工作温度范围在-55℃至150℃之间,使用寿命超过500,000次,接触自感为0.59nH。这种新型RF测试插座可提供各种定制材料、电镀、尺寸及配置。100引脚插座售价599美元(仅供参考),供货期为四至六周。 

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