针对不断增长的测量需求提供解决方案的行业领袖吉时利 (Keithley) 仪器公司(NYSE:KEI)，日前发布6.1版交互式KTEI，暨功能强大的KTEI（吉时利交互式测试环境）测量软件之最新版本，适用于4200-SCS半导体特性分析系统。新版KTEI 6.1软件增强了吉时利4200-PIV的脉冲I-V能力并显著改进脉冲和DC测量的相关性。
脉冲测试正成为日益重要的新特性分析技术。高速脉冲避免了自加热效应可能造成的损坏并应用于新半导体材料和器件的特性分析，例如高k栅层叠特性分析中的电荷俘获。吉时利4200-PIV包将4200-SCS的能力扩展至包含脉冲发生和分析的领域，适用于材料和器件特性分析。
此外，KTEI V6.1集成了用于吉时利3400脉冲发生器的驱动程序，该驱动程序使吉时利4200-SCS能无缝集成3400脉冲发生器到测试环境中实现多种脉冲功能。KTEI V6.1为易用、可现场安装的软件升级。
本次最新发布的KTEI软件实践了吉时利的一贯承诺，即不断改进其功能强大的测量工具并提供只需极低成本的升级和迁移路径。该优势并非测试业界所有公司皆都提供。吉时利尤其注重用户投资保护，旨在帮助用户简单升级所需软件或硬件而非每隔几年就购买一套完整的新硬件装置。
