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矽品FOW专利封装技术可缩小晶片堆叠尺寸

     封装业者矽品精密(SPIL)日前宣布,该公司已采用FOW(FilmOverWire)独家专利封装技术,成功为客户量产FlashCard记忆卡。这项FOW封装技术可以灵活运用在堆叠封装上,具有降低堆叠封装高度14%以及缩减宽度14%的优势,并且能够保护晶片及焊线不受到损伤。

    电子产品强调轻薄短小而且功能强大,使得产品内部每项零组件体积必须不断微缩,以节省体积及减轻重量,处处挑战厂商制造能力极限,因此堆叠封装技术(StackedDiePackage)就成为缩减体积的解决方案之一,其特点就是能够在体积限制之下,将更多的晶片封装在一起。不过堆叠封装目前也遭遇到技术上的瓶颈,因为在堆叠层数持续增加的情形下,最后的高度和宽度一定会超过封装体的范围。

      矽品的FOW独家专利封装技术,号称突破了体积限制的瓶颈,采用不同于传统的晶片堆叠方式,可以比一般晶片堆叠封装高度低14%、宽度缩减14%,能够节省

      多的空间,适合应用在高堆叠层数,以及晶片面积大小相近的产品上,在经过多层堆叠之后,仍然可以达到CSP(ChipScalePackage)要求。目前可以应用的产品为高容量记忆体(DRAM及Flash)堆叠封装。

      矽品表示,该公司已经成功将FOW封装技术运用在FlashCard记忆卡,量产了堆叠3层NANDFlashCard记忆卡。而2007年矽品更是将充分发挥FOW技术,在FlashCard记忆卡严苛的体积条件限制之下,率先研发出堆叠9层晶片的产品,层数比以往大幅增加3倍。
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