是德科技推出新款PXIe 源表模块，满足高精度、高分辨率测试应用的灵活测量需求

是德科技（NYSE：KEYS）推出三款新型PXIe 源表模块，旨在满足高精度、高分辨率测试应用的灵活测量需求。这些应用包括半导体以及其他非线性器件和材料的电流-电压（I-V）表征及测试。

源表（SMU） 是一种能够同时供电和测量的电子仪器，可以精准地施加电压或电流，同时对电压和/或电流进行精确测量。是德科技源表 产品丰富多样，总体分为四个类别：精密型、特定应用型、通用型和基础型。

是德科技此次发布的新款 源表模块包括：
•        Keysight M9601A PXIe 精密型 SMU模块，非常适用于要求高分辨率、高精度的各种电流电压（I-V）测量任务，如半导体、有源/无源元器件和通用电子器件的表征，以及参数/可靠性测试。凭借 500 nV/10 fA 的精密分辨率，这款产品可以支持最高达到 210 V/315 mA 的精准测量。脉冲和采样测量功能使得 M9601A 能够以 1.25 MSa/s 的采样率执行从直流到最低 20 μs 脉冲的各种测量。
•        Keysight M9614A 和 M9615A 是 PXIe 五通道精密型 SMU模块，非常适合有高通道密度要求的应用，譬如半导体可靠性测试和集成电路（IC）测试。凭借 6 uV/10 pA 的精密分辨率，这两款仪器可以支持最高 30 V/500 mA 的精准测量，并且能以更低的通道成本提供比常规 PXIe 四通道 SMU模块 更大的输出范围。这两款仪器的无缝电流测量量程调节功能省去了更改量程所需的时间，并将动态范围扩展到了四个测量量程，从而大大缩短了测试的整体耗时。
•        Keysight M9602A 和 M9603A 是 PXIe 精密型 SMU模块，具有脉冲宽度窄（10 μs）、输出范围大的特点，采样速率最高达到15 MSa/s。它们能为测试垂直腔面发射激光器（VCSEL）光学器件以及输出范围大、分辨率高的集成电路（IC）等大量新兴应用提供动态/脉冲测量。此外，这两款仪器的噪声低，能够支持短孔径时间测量，无缝电流测量量程调节功能省去了更改量程所需的时间，提高了测试吞吐量。

是德科技电子行业产品副总裁 Christopher Cain 表示：“过去几十年以来，是德科技一直在为业界提供高精度SMU。我们的增强型台式 B2900B 系列 源表在精度、精密性和测量吞吐量方面树立了新标杆。我们以自身深厚的 SMU 专业知识和最新电子技术为基础，打造出了一系列高精度 PXIe 模块化 SMU模块。这些高密度测量 SMU 模块可在 PXIe 系统中灵活扩充，从而缩短多达 25% 的总体测试时间，这对于垂直腔面发射激光器件和量子计算测量具有非常重要的意义。”