如果上升沿的长度超过了负载间的距离，则可以推导出这个电路特性的一个简化的近似表达式。这个近似表达式将会告诉我们两件事：
1）线路的有效阻抗被减小。
2）线路的传播延迟增加。
这两项都严重地影响了高速信号总线的性能。
1、均匀负载总线的有效阻抗
由于上升沿的有效长度与负载间隔相当，按照式（
）信号将来回地反弹。对于非常轻的负载，只需分别把每个负载的反射累加起来，就可以计算出总的反射脉冲高度。这些反射信号的总和是一个最坏的运行情况，因为反射脉冲不会同一时间全部到达上任何一点。
第二次和第三次的反射衰减严重，因而通常不值得进行计算。
对于上升沿长度大于负载间隔的情况，每个电容的影响平均地分布在上升沿的边上，如果我们采用两倍数量的电容，而电容的值减小一半，或者是将电容的容量以相等的比率均匀地分布到线路上，产生的效果将没有什么不同。
电容均匀地分布地理解这个电路的关键。
构造一个新的传输线模型，每英寸具有电感和阻抗与原传输线相同，但有一个新的电容，总负载电容除以总路线长度的英寸数，得到每英寸的负载电容。然后用这个电容值加上传输线原有的每英寸电容，得出新模型的电容：
其中，C负载=负载电容，PF
N=负载数量
长度=总线长度，IN
C线=传输线的电容，PF/IN
C=新模型的有效电容，PF/IN
现在利用这个模型，可以重新计算有效传输线阻抗Z：
2、一个均匀负载总路线的传播延迟
其中，C=新模型的有效电容，PF/IN
L=原有电感，PH/IN
例：均匀负载的总路线
SAM将用SLMM模块构造一个大的存储电路板，他计划用16个SIMM组成一个大存储器阵列，如图4.24所示。所有16个SIMM的地址线并联在一个驱动端，记为门电路A，这里是每条线的临界参数：
C负载=50PF
N=16
长度=8IN
C线PF/IN
L=7250PH/IN
首先计算沿线的有效电容：
用新的电容值重新计算ZO和传播延迟：
总的线路延迟是：
在第一个SIMM之后6.9NS，最后一个SIMM才接收到地址数据，这个偏移将降低存储器的定时裕量，不仅如此，端接值和驱动阻抗都不得不非常低。
可能的解决办法都涉及将SIMM地址总路线分为多条总线，每条总路线上只有少数几个负载。
做为一个检验，SAM应该使用与图1.6中类似的电路来测量总的线路电容（C*长度）。SAM可能需要使用比图1.6中更小的电阻，以提供驱动SIMM输入端在其跳变范围所需的电流。
