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一种单片机可控硅电路中LDO烧毁原因分析

原理图如图1所示,当直流24V是半波后阻容降压,HT7533转换3V给单片机控制可控硅和继电器,单片机控制信号先打开可控硅6ms,再打开继电器。当可控硅不焊接的时候,单片机控制继电器都正常,但接上MAC97A之后,单片机一旦打开可控硅,电路就会打火,单片机和后端的24V转3V的LDO便会烧毁。

那么是什么原因造成了这种现象呢?

图1

图2

首先需要明确的是,如果使用可控硅控制,那么就要使用MOC3022之类光耦隔离控制,要求阻容降压电源正极和交流电源线共线,同时可控硅A1接在共线上。但是从图上来看,可控硅的G和T2之间电压很小,在可控硅焊接之后,就可以把220v引入,此时是必定会打火的。

此外可以看到电路中的网格编号是互通的,看图中相同网络编号的黑粗线,继电器两个触点和可控硅的T1、T2是并联的。因此需要再加个MOC3021隔离驱动可控硅,可控硅驱动不是只在G接控制即可,G的控制是相对于T2的,但本例中的T2是达到了220v。

实际上此套电路的设计思路很有想法,继电器接通时有抖动,这样可以避免继电器抖动带来的危害,因为在继电器接通时可控硅已经打通。

可以看到,文中所介绍的双向可控硅案例之所以出现烧毁的现象。是因为电压引入过大造成的。当然,也不是每种电路烧毁的现象都是由于这种原因造成的,这里小编只是为大家分析了其中一种问题的产生原因,希望大家再阅读过本文之后能够有所收获。

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