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如何提高隔离接口模块的ESD抗扰能力

  带隔离通信接口的设备,在不同的使用、安装状态下,接口会表现出完全不同的ESD特性,了解设备在不同的使用状态下,ESD对接口的影响的机理,才能有针对性地增加保护器件,提升隔离接口ESD能力。下面以带有隔离CAN或RS-485通信接口为例,对常见的设备状态下,ESD的作用机理进行分析,并提出相应的改善措施。

  1. 设备控制侧有接保护地,总线侧悬空

  如图 1,此状态下,设备控制侧有接入保护地(PE),总线侧参考地悬空,与PE无任何连接。

  图 1

  此状态出现的可能场景:

  1. 产品开发测试过程中;

  2. 单个产品进行ESD测试时;

  3. 设备组网时,控制侧已接入保护地,正在进行总线接入或断开操作时;

  4. 设备组网后,总线侧未进行接地处理的。

  静电分析:

  假设控制侧均做了足够的保护措施,当控制侧接口受到静电放电时,能量通过控制侧保护器泄放至PE,对隔离通信接口基本无影响,如图 2。

  图 2

  当总线接口受到静电放电时,由于总线侧悬空,能量只能通过隔离栅的等效电容Ciso进行泄放,由于Ciso非常小,仅有几皮法至十几皮法,Ciso被迅速充电,两端电压Viso会非常高,几乎等同于放电电压,如图 3。电压全部施加在隔离接口模块的隔离栅,若电压超出了隔离栅的电压承受范围,则会导致内部隔离栅损坏。

  图 3

  对于一般的隔离接口模块,隔离栅可承受的静电放电电压只有4kV,对于更高等级的6kV或8kV的静电来说是非常脆弱的,极易出现损坏情况。

  改善方法:

  为了减轻隔离栅的压力,可以在隔离栅两边增加一个电容Cp, 为静电能量提供一个低阻抗的路径。如图 4,总线侧的静电能量大部分通过此电容泄放至PE,并可以有效降低隔离栅两侧电压,从而起到保护隔离接口模块的作用。

  图 4

  为了达到良好效果,Cp容值应远大于Ciso,建议取100pF~1000pF之间。若无安规要求,可与Cp并联一个大阻值泄放电阻,如1M,以防静电积累;若有安规要求,一般需要去除泄放电阻,同时选择安规电容。器件选择时,注意阻容耐压需要满足设备指标要求。

  2. 设备控制侧悬空,总线侧有接保护地

  如图 5,此状态下,设备控制侧参考地悬空,与PE无任何连接,总线侧有接入保护地(PE)。

  图 5

  此状态出现的可能场景:

  1. 产品开发测试过程中;

  2. 单个产品进行ESD测试时;

  3. 设备组网时,总线侧先接地,控制侧未接地时;

  4. 设备组网后,控制侧未进行接地处理的。

  静电分析:

  类似的,当控制侧接口受到静电放电时,由于控制侧悬空,能量只能通过隔离栅的等效电容Ciso进行泄放,由于Ciso非常小,两端电压Viso会非常高,如图 6。电压全部施加在隔离接口模块的隔离栅,若电压超出了隔离栅的电压承受范围,则会导致内部隔离栅损坏。

  图 6

  当总线侧接口受到静电放电时,静电能量通过隔离接口模块内部总线侧器件泄放至PE,如图 7。若ESD能量超出了接口模块内部总线侧器件的ESD抗扰能力,总线接口则可能损坏。

  图 7

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