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通过世强开放实验室的物联网射频性能测试,解决MCU的LESENSE采用错误问题

  世强-是德开放实验室自4月11日正式对外开放以来,已迎来了多家企业进行各方面的测试,帮助他们解决了项目中的实际难题。其中,一家来自深圳做水表项目的企业,通过来世强开放实验室,就快速寻找到了产品的问题根源并对问题进行了解决。

  该企业的水表项目MCU的LESENSE工作时有采样出错的现象,一直无法解决。后来看到世强元件电商宣传世强-是德开放实验室内容,就进行了报名,预约成功3个工作日后进行检测。在世强-是德开放实验室的仪器和技术专家的支持下,测试到问题原因点——供电。该企业水表项目采用的是电池供电,但红外收发及NB-IOT模块耗电量较大,通过测试,发现产品的NB-IOT模块工作的时候会触发红外收发,而在电源设计上NB-IOT是直接接到电池上的,红外收发是接到后端的LDO上,LDO的输出接到红外同时给MCU供电,也就是说,在NB-IOT及红外工作时,电池电压及LDO的输出电压会有小幅度的下降,影响了LESENSE的信号波形,最终导致了MCU的LESENSE工作时采样异常。

  找到问题后,世强的资深技术专家也帮助他们给出了解决办法,就是给MCU(EFM32)单独增加了一个LDO供电,隔离了NB-IOT和红外收发对它的影响。再次进行实际检测时就没出现过LESENSE工作采样出错的情况了。

  问题解决之后,检测的工程师对结果特别满意,说,“没想到预约那么方便还很快,最主要的是很快帮我们解决了问题,省得我们去上海的实验室进行检测,而且也不用排队,特别好,整个项目的上市时间也有保障了。”

  除了IoT物联网射频性能测试方案外,世强-是德开放实验室还提供EMI预兼容(辐射)近场测量方案、低功耗测量方案、无线充电传输效率测量方案、材料+LCR参数测量方案及采用逐点生成技术的33500B函数/任意波形生成器、业界首创1500V太阳能光伏阵列仿真器等全球先进的电子测试与测量设备供企业免费使用。广大有需要的企业可以在世强元件电商预约并在世强总部内进行产品检测。

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