网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
资料首页最新产品 技术参数 电路图 设计应用 解决方案 代理商查询 IC替换 IC厂商 电子辞典
关键字: 技术文章 PDF资料 IC价格 电路图 代理商查询 IC替换 IC厂商 电子辞典

富士通研发出分析LSI生产线空气污染的传感器

    富士通研究所开发成功了可实时分析LSI生产线晶圆运送容器(FOUP)内空气污染的传感器。今后,将通过富士通的LSI生产线进行效果验证。

与金属板并用也可测定污染物

  作为LSI生产线的空气污染物分析方法,此前主要采用取样方法。但是使用这种方法,分析时需要花很长时间,并且不能实时分析,很难确定污染原因。而此次则将富士通研所开发的水晶发振传感器(石英晶体微天平,QCM)配置于FOUP内,可实时分析空气中的污染物,及早确定污染原因,便于采取对策。也可以将金属板与传感器一块放入FOUP,通过X射线光电子分光法来确定污染物。

  QCM的工作原理是水晶振子表面吸附有物质时,振动频率会发生变化。仅吸附0.5ng/cm2的微量物质,振动频率就会变化1Hz。新开发的QCM为了放进FOUP,进行了小型化设计,同时,使用了可弯曲的接线,不用在FOUP上开口即可插入内部。

  LSI生产线普遍采用的方法是,不仅提高洁净室的清洁度,还将晶圆密闭在FOUP等容器中,局部提高晶圆周围的清洁度。

  富士通研究所将在9月25~27日召开的半导体制造技术相关国际会议“International Symposium On Semiconductor Manufacturing(ISSM)2006”上发表此次的成果。

热门搜索:N060-002 2320319 SBB400 6NX-6 SBB1602-1 PS-410-HGOEMCC PM6SN1 02M0500JF BT151S-800R118 2858030 LED12-C2 TLP712 EURO-4 BTS410F2E6327 ULTRABLOK BT137S-600D118 01M1001JF PS3612 2866352 01B1001JF 2839240 TLM812SA SBB1002-1 02B0500JF 2762265
COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
(北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质