富士近期公布了一款全新的相位差检测单元传感器专利，实际上类似的技术富士已经用在了旗下小尺寸DC F300 EXR上，不过富士仍然在改进自己的结构以满足未来的需求。
在新专利当中，通过增加一些菱形单元以实现模拟相位差检测结构，相位差部分的光量比过去高了1倍，可以实现更好的对焦速度，当然了这个东西我们在短时间内还看不到，一切的一切肯定会放在下一代产品上，希望他能实现对焦速度的快速提升吧!
