NI推出新的PXI SMU系列产品，适用于自动化半导体测试。全新的NI PXIe-4143 SMU每秒取样率为600，000，具有4个通道，堪称通道密度最高的SMU，非常适合多针脚半导体待测装置的平行测试，并且能以150mA将NI的多通道SMU输出範围提高至24V。这些功能有助于降低主要设备的成本、缩短测试时间，同时针对各种待测装置提高混合讯号的测试弹性。
「有了全新的NI PXIe-4143，现在我们的SMU 系列可让工程师针对几乎各种装置进行 DC 量测」，NI 半导体测试副理Ron Wolfe 表示：「我们的通道数量领先业界，再加上优异的取样率与可客制微调的 SourceAdapt 技术，因此打造出最具弹性的半导体量测仪器。」
【产品特色】
4 个 SMU 通道，取样率高达 600 kS/s 以便量测快速暂态响应
以 150 mA 提供 24 V 的 4 象限输出功能，补足现有的 NI SMU 汲极 (sinking) 与源极 (sourcing) 功能
量测敏感度为 10 pA
富有弹性的精简 PXI 模组化仪器架构，适合小型设备佈署
