| 测试和可靠性试验是保证集成电路性能和质量的关键，从集成电路设计的验证、制订产品规范到产品出货，都离不开测试，并贯穿于整个集成电路产业链。产品质量的好坏同时也离不开可靠性评价，可靠性技术是集成电路制造行业的支撑技术，为集成电路性能的迅速 发展和产品的实用化提供保障。 随着设计技术不断的提升，集成电路的功能越来越复杂，集成度越来越高，从而使得测试更加困难，企业为之付出的成本也越来越多。本次研讨会主要针对集成电路的测试技术、失效机理和可靠性试验技术等几个热点问题进行探讨，解决企业在实际工作中面临的难题。研讨会上，将有集成电路测试专家和可靠性专家进行专题讲座。 讲座内容：1. 集成电路测试原理； 2. 集成电路测试技术 3.基于ATE的集成电路测试（Digtal IC、Analog IC、Mixed-signal IC testing methods） 4.集成电路可靠性概论 5.集成电路主要失效机理 6.集成电路可靠性试验技术 地点：中国赛宝实验室（电子五所）培训中心教学楼一楼（广州市天河区东莞庄路110号） 时间：2006年8月25日（星期五全天） 费用：免费（提供资料、讲义、工作午餐） 其他：外地同行若需住宿，组委会协调安排，费用自理。 会议联系方式： 020-87237292，13925081570 刘先生 传真：020-87237181（请确认参加的单位将回执填好回传，以便安排合适场地和午餐，谢谢配合） 具体内容请下载：技术培训－相关文件下载－集成电路测试与可靠性技术研讨会邀请函 |
