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联电尔必达力成 合攻3DIC

    联电(2303)、尔必达(Elpida)及力成(6239)昨(21)日宣布,三方将结合在三维(3D)IC的设计、制造与封装等优势,投入开发整合逻辑芯片及动态随机存取内存(DRAM)的3DIC完整解决方案,并导入联电的28奈米制程生产,2012年首颗整合芯片将正式量产。

    三家公司选定以硅晶圆穿孔(TSV)技术为基础,进行TSV3D芯片开发。优先切入整合基频、射频、储存型闪存(NANDFlash)及DRAM等整合性芯片,抢食追求轻薄短小的手机及数字相机等消费性电子产品市场。

    昨天三家公司由联电执行长孙世伟、尔必达社长坂本幸雄及力成董事长蔡笃恭共同签署技术合作协议。

    孙世伟强调,尔必达在联电有多年的合作关系,去年首度以TSV技术,成功开发80亿字节的DRAM,联电也完成28奈米逻辑技术与逻辑设计接口,力成则在内存堆栈有深厚的技术,透过三方在TSV的优势结合,将缩短提供TSV3D芯片整体解决方案的时程,成为摩尔定律外的另一个选择。

    尔必达董事兼技术长安达隆郎表示,TVS技术最大的优势是可以在逻辑与DRAM组件间建立大量的I/O连结,可大幅增加数据传输的速率并且减少功率消耗,使新型式的高效能组件能够运作,这项择术必须有值得信赖的逻辑晶圆专工伙伴才能达成这个目标。

    联电副总暨先进技术开发处长简山杰表示,针对TSV3D芯片的前段制程研发,联电将与尔必达在日本共同开发,未来生产,若是联电的客户,将入在联电台湾的晶圆厂以28奈米先进制程生产,封装将由力成负责。

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