惠瑞捷公司(Verigy)宣布为旗下V6000 WS内存测试系统新增内存冗余分析功能(Scalable Memory Redundancy Technology；SmartRA)。SmartRA是一套可扩充、具备高度弹性及成本效益的解决方案，能帮助制造商解决DRAM冗余分析中日渐成长的失败储存空间与效能需求。
惠瑞捷于2008年11月推出的V6000 WS系统，是第一套可同时应用于闪存与DRAM的晶圆测试系统，不仅具备可扩充性，更能满足大量测试需求。随着SmartRA的推出，V6000 WS使用者将可轻松地透过冗余分析功能提升产出量及良率。
V6000测试系统系列能满足半导体内存制程各阶段的测试需求，包括工程测试、晶圆测试与终程测试等。只要更换测试程序与探针卡(probe card)，V6000即可测试闪存或DRAM。V6000系统采用惠瑞捷专利申请中的Active Matrix技术以及第六代Tester-Per-Site架构，两者搭配可提供业界最低的测试成本。
Active Matrix技术能进行大规模的平行测试，支持的I/O Pin超过18,000个，可程控电源|稳压器供应Pin亦超过4,000个，且因大幅缩短通往脚端接口电路(Pin Electronics)的讯号路径，而能提供最佳的讯号完整性(Signal Integrity)。
为满足业界的众多需求，惠瑞捷开发了SmartRA，藉由此解决方案具备的高效能刀锋服务器，企业可依据本身需求提高冗余分析的处理效能，无须扩充测试机台容量。另外，SmartRA采用开放性软件架构，客户可选择采用惠瑞捷提供的算法或另外自行开发，可缩短上市时程并降低测试成本。
SmartRA可解决复杂冗余分析处理所带来的挑战，包括暴露冗余分析时间导致的产出量下降，或是冗余分析逾时造成的良率损失。新增了SmartRA的V6000测试系统隐藏冗余分析时间，即使改变测试需求、切换测试模式也不会造成中断，进而达到提升产出量与良率的效能。
