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基片的SOl智能切割

  将SIMOX和BESOI的步骤结合起来就形成了智能切割。将注入剂量为1017/cm2的氢离子注入到热氧化的基片中,形成高斯分布的轮廓。基片表面到氢离子峰值浓度的距离取决于注入能量,通常在几百纳米到几微米之间;而在氢离子浓度最高的地方,晶格损伤也最严重,价键也最弱。

  离子注入之后,将两个同样的基片(其中一片可以没有热氧化层)接触并在室温下键合。然后在600℃和1100 ℃下退火,基片就会在氢离子浓度最高处裂开。然后通过CMP减小表面的粗糙度。

  由于氢的质量较小,所以离子注入并不会对晶格造成很大的损伤,线位错的密度一般小于102/cm-2,掩埋氧化层即热氧化层,厚度为几百纳米到几微米不等。

  由于智能切割自由度大、质量好、效率高,对于制作低成本的光子器件很适用,法国的SOITEC已有商品供应。

  SIMOX适合大批量生产,但离子注入损伤引起的粗糙度可能会使光场的损耗增加,而对于大截面的光波导结构来说问题就不存在了。BESOI不存在离子注入损伤的问题,但减薄工艺会产生破坏,结果是两个基片最后只能合成一个SOl的基片,这对于大规模生产是很不利的。SmartCut集合了前两者的优点。它既能重复生产,又易于剥离,而且剥离下来的硅片还可以重复利用。虽然氢离子也含造成损伤,但损伤较小。

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