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RIB刻蚀气体系统

  RIB中一般不采用单一品种的气体,而是数种气体的组合(气体系统)。其作用分别是:

  (1)主刻蚀气体。一般用含卤族元素的气体,特别是卤碳化合物气体。之所以较少使用纯卤元素气体,是因为其化合物气体较易处理,操作危险性小。

  (2)惰性气体(Ar,He等)起稳定和均匀等离子体的作用,并有加强各向异性刻蚀效果的作用。

  (3)基团或未饱和物的清除物。在电子轰击下,有一部分卤碳化合物被分解成卤素(刻蚀剂)和不饱和卤碳化合物(卤素被剥离后剩下的部分)。不饱和卤碳化合物可能是刻蚀剂,也可能不是。它可与卤素重新复合(这会降低刻蚀剂卤素的浓度),也可能形成聚合物(Polymers)(聚合物有可能阻止刻蚀进行,但如落到侧壁(Sidewall)上,可以作为掩膜保护图形侧壁,有利于各向异性刻蚀)。实用上常用氧化性气体(02)或还原性气体(H2)的添加。通过上述机制,达到改善选择性及各向异性的目的。例如,在纯CF4等离子体中刻S1/Si02。刻蚀速率及选择性都很低。因为等离子体分解了CF4→F十CFx(X≤3)后,F与CFx又不断地复合。因此/的稳态浓度很低,刻蚀速率很低。加入02后,02与CF.反应形成COF2、CO、CO2,减少了F原子的复合损耗。

  结果:

  ①F原子浓度增加,51刻蚀速率因而增加。

  ②减少CF,形成Polymers的趋向;另一方面,02又会吸附到Si表面形成SiO,,影响到与SiO2的选择比。而加入H2后,H与F结合,形成HF,使Si刻蚀速率下降。而CF,增加,使Si02刻蚀速率增加。

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