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由田新技推出SKYLINE系列双面HDI自动外观检测设备

  随3C商品的日新月异,使用的印刷电路板朝细线化、高密度及多功层化方向发展,造就高密度连接板(HDI)产量需求相对提升。因应市场需求,由田新技推出SKYLINE系列双面HDI自动外观检测设备,提供RAM、光电板、手机按键板、主机板、汽车板及各式pcb板等制程厂商出货品质检验最佳的解决方案。

  SKYLINE系列设备的主要优势在于可针对pcb外观缺点进行全面性检查,包含金面表面瑕疵、金手指表面瑕疵,防焊瑕疵、绿漆露铜、网印瑕疵、线路变形与断线等缺陷,鉴于目前印刷电路板线路愈趋精细,仅靠人工目测的可靠度及速度逐渐无法符合需求,使用SKYLINE系列设备可大幅降低产线人力需求及检测成本,提升产品产量与品质。

  SKYLINE系列设备采单机双面检查模式,有效节省五成以上的检测时间;以Golden Sample为主,辅以CAD资料定位系统,取代传统撷取多片基板影像的学料方法;利用高解析度、高传输速率的彩色线性 CCD,搭配强劲的处理引擎,达到微米级的检测能力;并以自行开发的自动校正检测逻辑系统,针对制程上所形成的不确定区域,提供高检出率及低误判率的检测特性,可避免因制程上的变化,如Pad的胀缩、绿漆的偏移及金面粗糙程度等变因造成检测的误判与漏检。

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