新型AOI、SPI和线内测试仪产品也将登台亮相
Test Research公司（TRI，加权股价指数报酬指数3030）宣布其将在9月9日至12日举行的2008年环球电子展上推出新型TR7600自动X射线检测（AXI）测试系统以及用于印刷电路板装配（pcbA）的各种新型测试系统，其展台位于新达新加坡401-404大厅第M30号。
TR7600标志着TRI已进军PCBA测试系统的高端AXI领域。TR7600可对倒装芯片和球栅阵列（BGA）以及0201和01005微型组件等高密度组件提供线内检测。该系统可采用电荷耦合器件（CCD）的X射线穿透技术捕捉不同角度的图像。由TRI内部开发的软件能分析组件切片图像并计算不同切片厚度，以满足PCB缺陷检测需求。
TRI的新加坡办事处区域销售经理Benny Ng说："此时正值宣布推出这项产品的大好时机。本周，我们向一家美国大型ODM的东南亚工厂发送了首台TR7600系统。环球电子展为TRI向全亚洲企业推出其具成本效益的可靠测试系统最新生产线提供了理想平台。"
TRI展台还将推出两款AOI（自动光学检测）系统——TR7550和TR7500DT。TR7550是一台包含线性马达的线内系统，可提高成像精确度。它结合了一部仰视3CCD全彩数码相机和四方位拍摄相机，以提供同类产品中最完整的AOI覆盖率。TR7500DT是一种紧凑的高速台式系统，可离线探测和分析各种问题。
焊膏检测（SPI）与在线测试系统为TRI针对PCBA 测试产品提出的"一站式解决方案"提供了完美补充。TR7006L三维焊膏检测系统可提供每秒76平方厘米的超高速检测，分辨率达20微米。TRI的 TR5001线内测试系统在亚洲板测试行业遥遥领先。TR5001是一种具成本效益的MDA，并能为板上编程和IEEE 1149.6边界扫描提供全面升级选项。
