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  • 太克推出S540功率半导体测试系统
    http://www.ic72.com 发布时间:2016/11/8 13:24:26

     
     太克(Tektronix)近期宣布推出Keithley S540功率半导体测试系统,这是为高达3kV的功率半导体装置和结构,提供的全自动48针脚参数测试系统。完全整合的S540是专为与最新复合功率半导体材料,包括碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN),搭配使用而进行最佳化处理,可在一次探头接入中执行所有高压、低压和电容等测试。

     随着对功率半导体装置的需求不断提高,同时,SiC和GaN也日益商业化,製造商正在生产製程中採用晶圆级测试,以有效提升良率并改善盈利能力。针对这些应用,S540显着地缩短了测试时间和测试设定时间,并减少了占用空间,同时实现了实验室级高电压量测效能,进而降低了拥有成本。

     Tektronix Keithley产品系列总经理Mike Flaherty表示,许多晶圆厂正使用自订的混合测试系统来执行功率半导体测试,在从低电压测试转向高电压测试时,需手动变更测试设定,这却会增加製程步骤并拖慢生产速度。相较之下,S540是一款完全整合的解决方案,特别适合必须迅速测试各种装置的生产环境。

     为提供生产级效能,S540可在高达48针脚上执行参数量测,而不须更换电缆或探棒卡设施,还可执行高达3kV的电晶体电容量测,如Ciss、Coss和Crss,而无须手动重新配置测试针脚。

     

     


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