Mentor Graphics公司日前宣布，专用集成电路（ASIC）设计公司Open-Silicon采用带Cell-Aware Test的Tessent TestKompress产品，改进了片上系统设计的测试品质。使用Tessent TestKompress产品以后，Open-Silicon成功检测出并解决了以前使用传统方法检测不到的缺陷。Open-Silicon还部署Tessent MemoryBIST产品，对嵌入式存储器进行全速测试、诊断和维修。

    “随着客户转至更小制程节点和更大片上系统设计，检测细微缺陷的挑战愈加复杂，”Open-Silicon工程副总裁Taher Madraswala说。“为满足非常低DPM的需求，我们需要不仅能检测标准单元边界上的缺陷，还能捕获单元内缺陷的测试。Tessent Cell-Aware Test解决方案给我们提供了这样的能力，同时又不会大幅提高测试成本。

    Cell-Aware Test是一种晶体管级测试方法学，通过仅针对各标准单元内部的特定短路、开路及晶体管缺陷，从而克服了传统固定和过渡故障模型及相关测试模式的限制，由此，大幅降低了缺陷（DPM）水平。

    Open-Silicon为客户提供经充分测试的部件，而Mentor Cell-Aware Test的功能及Tessent MemoryBIST解决方案增强了他们向客户提供更可靠芯片的能力。Open-Silicon使用Tessent TestKompress Cell-Aware Test功能检测到了使用传统硅片测试方法所未检测到的单元内缺陷，从而成功降低了其每百万缺陷部件数（DPM）。他们计划部署该解决方案，以满足对DPM敏感的客户的需求。

    “Cell-Aware Test给像Open-Silicon一样需要降低DPM水平的公司带来了价值，”Mentor Graphics产品营销总监Steve Pateras说。“我们在不断增强我们的Tessent DFT解决方案，以实现最高的测试品质，同时也在缩减开发精力和生产测试成本。”