河洛半导体将在IIC China 2013上展示最新自动化IC烧录/测试系统AT3-310A系列，届时，来自河洛的资深工程师将为观众现场演示IC烧录/测试、带上打印及包装转换等多种功能。

    河洛的自动化IC烧录/测试系统AT3-310A系列是一种适用于盘装、管装及带装IC的专业多颗取放式自动烧录/测试系统。系统配备4颗IC取放吸嘴和4组内建烧录 / 测试单元，藉由优异的控制软件，提供IC烧录 / 测试、带上打印及包装转换等多重功能。系统一次取放4颗IC，使烧录/测试时间小于43秒的IC能达到最高约2000 UPH的产出效能。

    “随着电子应用产品的多元化，IC种类、封装、包装等变化愈来愈大，但人工成本不断高涨的同时，人力弹性却未同步增加，这使IC烧录/测试的自动化系统和外包需求日渐受到重视，尤其是中大型电子代工生产厂商。河洛半导体凭借30年经验，改良精进的自动化IC烧录/测试系统，提供专业自动化代工IC烧录和测试服务，正可有效满足此类市场需要，让客户不再为IC烧录/测试的效率、质量烦恼，真正专注于自身优势。”河洛半导体的副总经理Robin Shen在接受采访时谈道。

    河洛半导体成立于1983年， 致力为业界提供价位合理、品质可靠的IC烧录及测试解决方案。目前主营项目包括：工程型和量产型IC烧录器ALL-100A、FLASH-100系列、IC测试机HV-256系列、自动化IC烧录 / 测试系统AT3-310A系列、IC测试座，及专业代工IC烧录和测试服务，亦可专案开发客制软硬件设备。河洛力求以精确踏实的烧测经验和高度弹性的生产组合，满足客户IC相关的后段制程需求。

    除河洛半导体外， IIC China 2013现场将汇集众多优质技术厂商，于明年2月28日，3月1-2日在深圳会展中心举行，欢迎广大工程师朋友们莅临参观、学习和交流。