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  • Rudolph推出新款透明薄膜测量系统S3000A 产能成本优势吸引数份订单
    http://www.ic72.com 发布时间:2012/11/14 13:40:40

        为半导体制造行业提供微缺陷检测系统的Rudolph TECHNOLOGIES公司日前推出了最新款透明薄膜测量系统S3000A。


        S3000A系统在公司高速XPort自动平台上结合了多波长聚焦束椭圆偏光测量(FBE)及更新更快速的深紫外反射(DUVR)技术, 相较目前设备吞吐量提高了25%,并且拥有当前市场上最低的CoO(cost-of-ownership),可广泛应用于扩散、刻蚀、CMP,及后端薄膜等各种晶圆工艺过程中。


        S3000A最新推出便受到数份订单,其中一份来自欧洲,将在本季完成发货,接下来的两个季度另会有多套S3000A发货至台湾领先的存储器制造工厂。亚洲及欧洲的订单情况预示了此款新设备良好的市场前景。
     


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