网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
搜索关键字: 所有资讯 行业动态 市场趋势 政策法规 新品发布 技术资讯 价格快报 展会资讯
  • 达普IC芯片交易网 > 新闻中心 > 技术资讯 > 正文
  • RSS
  • NI TestStand 2012采用新的模块化框架,提升自动化测试的吞吐量与灵活性
    http://www.ic72.com 发布时间:2012/11/7 15:56:01

        新闻发布 - 2012年11月- 美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)近日发布全新版本的自动化测试管理软件 —— NI TestStand 2012。 凭借其全新的模块化流程架构,NI TestStand 2012帮助工程师提升了自动化测试系统的灵活性和吞吐量。 新的模块化架构让测试设置变得更为容易,扩展了测试和报告的灵活性,让工程师可在并行测试中同时进行这两项任务。


        感言:


        “NI TestStand 2012中新的异步处理方法,大大提高了我们测试系统的性能,” 领先的测试解决方案供应商——Alfamation公司的软件部经理Alessandro Bernocchi表示。 “即刻测试下一台待测设备,同时在独立的线程中自动进行最初待测设备的数据采集,可帮助我们实现测试吞吐量的显著增长。”


        产品特性


        异步结果处理可在保持设备测试的同时,还能生成报告或数据记录


        插件架构有利于实现高级自定义,所需变动的代码极少,例如:多种报表格式


        NI互动交流社区可帮助您缩短开发时间,其中包含了拖放式代码模块文件,可实现步骤自动生成,改善数组和字符串的操作等
     


    www.ic72.com 达普IC芯片交易网
  • 行业动态
  • 市场趋势
  • 政策法规
  • 新品发布
  • Baidu

    IC快速检索:abcdefghijklmnopqrstuvwxyz0123456789
    COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
    客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
    (北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
    京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质