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  • CEA-Leti:直写电子束微影适用14nm制程
    http://www.ic72.com 发布时间:2012/2/17 14:01:53

        法国研究机构 CEA-Leti 表示,已成功使用直写电子束微影(direct-write e-beam lithography)技术制作出 22nm线与空间(lines and spaces),而且所展示的分辨率可符合 14nm与10nm 逻辑制程节点的需求。

        除此之外,开发多电子束(multibeam)设备原型、目前正获得 CEA-Leti 采用的荷兰厂商 Mapper Lithography,与CEA-Leti共同宣布双方扩张伙伴关系,将其合作研发计划“Imagine”期限展延三年;其内容包括为CEA-Leti安装第一套Matrix试产(pre-production)工具。

        Mapper的试产平台已经在2009年中安装于CEA-Leti 的无尘室;包括意法(ST)与台积电(TSMC)都是Imagine研究案的原始参与者,来自13家公司的50位代表则在2012年1月份参与了一场研究项目的营运审查。

        意法、台积电与Mapper、Nissan Chemical、TOK、Dow、JSR Micro、Synopsys、Mentor Graphics、 Sokudo与 Tokyo Electron、Aselta也参与了该项研究项目,目标是在商业化制造环境提供无光照微影技术。

        「Mapper将在2012年完成Matrix试产平台,初始吞吐量为每小时1片晶圆,未来将可提升至每小时10片晶圆;」Mapper执行长Bert Jan Kampherbeek表示。CEA-Leti执行长Laurent Malier则指出:「透过将Imagine研究项目展延三年,我们将持续为产业界对电子束微影技术越来越浓厚的兴趣提供解答。」


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