网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
搜索关键字: 所有资讯 行业动态 市场趋势 政策法规 新品发布 技术资讯 价格快报 展会资讯
  • 达普IC芯片交易网 > 新闻中心 > 模拟技术 > 正文
  • RSS
  • UL创新非穿刺测试真实模拟电池内短路,把关手机安全
    http://www.ic72.com 发布时间:2012/2/6 14:32:24

        现代人手机不离身,其安全问题也越来越受重视。为此产品安全测试及认证服务供应商UL,日前发表锂电池的安全议题白皮书,针对应用在便携式电子产品如手机的锂电池进行安全研究,并指出多数电子产品的安全关键就在于锂电池,其又特别与电池的内部短路有关。

        UL表示,该公司成功开发出突破性的测试方法──“钝针挤压内短路测试”,能更真实地模拟电池局部性内短路时发热的状态,在非穿透电池壳体的情况下控制电路内短路程度,大幅提升锂电池安全测试的正确性,为消费者严格把关手机的安全。

        据统计,目前台湾的手机用户有2,784万户,普及率高达120%,相当于每个人拥有1.2支手机,拥有手机的人口密度堪称全球之最。而近年随着智能手机的普及,预估未来移动上网用户数可望从80万大幅增加至120万户,现代人对于手机的依赖将有增无减。

        在人们高度仰赖手机通讯后,却频传手机爆炸、自燃伤人,甚至导致死亡的事件,其中最常被质疑的,就是锂电池的安全性。根据Energy Trend报告指出,目前手机与笔电的电池主流为锂电池,锂电池出货量随消费性产品逐年成长,手机及笔电的锂电池更于2010年分别突破30亿颗及25亿颗大关。

        根据UL分析,内部短路为锂电池安全测试中发现最为棘手的问题。造成的原因包含内容物杂质渗入、产品材料老化、电池设计不良到外在环境条件如高温、震动、掉落,挤压、过度充电等。虽然内短路发生机率不高,但严重性却居电池意外之首。

        为此国际标准发展组织皆投入相关研究,期望藉由内短路测试方法的开发与改良,更准确评估电池的耐受力。UL成功研发的“钝针挤压内短路测试”,即改良传统“穿刺测试”无法精确模拟局部性内短路的缺点,能在不刺穿电池的情况下准确量测并控制电路内短路程度。

        UL的创新测试方法可在不穿透电池外壳的情况下进行,利用钢材质钝针工具在电池中心以0.1mm/s慢速压刺,同时侦测电池开路电压和温度的变化,让测试符合实际使用情形。同时,藉由仪器全自动化操作控制表层短路的范围,使测试结果不受人为因素干扰,提高再现性,有助于建立标准化安全测试程序。

        UL未来还将进一步透过“材料分析”与“失效模式分析”的技术改良实验方法,持续提升锂电池测试的精确度。


    www.ic72.com 达普IC芯片交易网
  • 行业动态
  • 市场趋势
  • 政策法规
  • 新品发布
  • Baidu

    IC快速检索:abcdefghijklmnopqrstuvwxyz0123456789
    COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
    客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
    (北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
    京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质