网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
搜索关键字: 所有资讯 行业动态 市场趋势 政策法规 新品发布 技术资讯 价格快报 展会资讯
  • 达普IC芯片交易网 > 新闻中心 > 展会资讯 > 正文
  • RSS
  • 2012年中国(上海)国际测试测量、仪器仪表展览会
    http://www.ic72.com 发布时间:2011/12/27 15:11:22

        展会基本信息

        展会名称:2012年中国(上海)国际测试测量、仪器仪表展览会

        展会时间:2012.4.25~27

        展会地址:上海世博展览馆

        展示范围

        质量控制系统产品:程序控制系统;智能化质量控制系统;自动系统;质量控制数据处理;鉴定系统;质量管理系统;环境管理系统;

        材料测试仪器及设备:破坏性(有损)检测仪器及设备:测试张力、扭转力、压力、弯曲度、阻力的仪器; 非破坏性(无损)测试仪器;材料测试仪器;

        度量衡,测量及测试仪器及设备:测量设备;测量机器人;机械测量仪器;测量系统、零部件和附件;电脑数控仪器;直线、角度测量仪器; 特殊目的测量及测试设备;测试设备、零部件;电阻式仪表;其他物理数据测试仪器;

        光电子产品:感应器;光纤技术测试产品;工业图像分析及处理系统;光电子测量系统;

        分析仪器产品:水、空气、气体和材料分析系统和部件;厚度测量仪器;

        联系方式

        联系人:胡东

        手机:15821923788

        电话 +86 21 36508040

        传真 +86 21 51687819

        E-mail: donghanexpo@163.com


    www.ic72.com 达普IC芯片交易网
  • 行业动态
  • 市场趋势
  • 政策法规
  • 新品发布
  • Baidu

    IC快速检索:abcdefghijklmnopqrstuvwxyz0123456789
    COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
    客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
    (北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
    京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质