HV-256 IC测试机系针对逻辑或混合讯号IC之测试需要而设计，可透过第二代通用序列汇流排(USB 2.0)和个人电脑(PC)连结，在优异的软体整合测试环境(Integrated Test Environment, ITE)下，提供工程开发、量产测试失败分析及良率改善等功能。

　　HV-256 IC测试机可进行直流(DC)、交流(AC)及功能性测试。两百五十六个测试通道可提供电压表、电压/电流检测、恒压、恒流源流出/流入、上拉/下拉电阻、主动负载、时间参数测量、并内建任意波形产生器及波形量化器等强大功能，媲美传统ATE，提供高规格性价比。机台体积精简，能因应待测IC特定需求，深具客制化之弹性。

    HV-256支援TTL、通用汇流排(GPIB)、RS232等通讯介面，可与坊间元件分类机(如HI-LO HL-930等)或晶圆针测机(如 TSK Prober)连结，可对高达十六个待测元件同时进行测试量产。