概伦电子科技有限公司今日宣布推出其良率导向设计(DFY)平台的新产品NanoYield，该产品以IBM授权的专利技术为基础，旨在通过高效的良率分析和设计优化，提升高端芯片设计的竞争力。

　　作为概伦电子NanoDesigner电路设计平台的一部分，NanoYield致力于解决高阶半导体工艺节点下由于工艺不稳定性的增加对电路设计带来的影响，快速有效地在芯片设计的早期预测产品良率，以帮助设计人员实现良率和性能的均衡设计。该产品通过概伦电子的BSIMProPlus建模平台中的先进统计建模技术对工艺不稳定性进行处理，BSIMProPlus是业界领先的SPICE建模工具，可提取精确的统计和边角模型，以进行快速可靠的Monte Carlo分析和PVT分析。

　　概伦电子的NanoYield采用其业界创新的并行统计仿真SPICE引擎，该引擎可以适用于任意类型的电路仿真，并可把传统的Monte Carlo分析速度在全SPICE精度水平下提升10至100倍。同时，NanoYield通过整合先进的统计采样技术进一步大幅提升统计仿真性能，采用了IBM授权的专利算法和方法学进行统计采样和良率计算，用于静态随机存储器(SRAM)和许多其他类型的电路设计。采用此技术，对于high-sigma的分析，其仿真速度比传统的Monte Carlo方法提高几个数量级，仿真时间可以从几个月缩短到几分钟。技术开发工程师也可以采用此解决方案来验证工艺并且提高SRAM和标准单元库的良率。

　　概伦电子有限公司的董事长兼总裁刘志宏博士说“与IBM的合作将促使概伦电子全球的客户在DFY领域里从IBM先进、成熟并且经过验证的创新技术中获益，我们期待与IBM在该领域内的进一步合作。”

　　IBM负责业务发展和技术授权事务的全球副总裁Tom Reeves先生说“IBM致力于通过授权其知识产权鼓励世界范围内的技术创新与合作。我们与概伦电子达成的技术授权协议，为双方进一步合作并提供更先进的集成电路设计解决方案打下了基础”。

　　双方将不对外界透露本次合作的具体协议条款。