网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
搜索关键字: 所有资讯 行业动态 市场趋势 政策法规 新品发布 技术资讯 价格快报 展会资讯
  • 达普IC芯片交易网 > 新闻中心 > 技术资料 > 正文
  • RSS
  • Multitest获得多份老化测试板续订订单
    http://www.ic72.com 发布时间:2011/8/31 10:35:57

        德国罗森汉姆,2011年8月----Multitest的老化测试产品事业部从一家大型欧洲汽车IDM那里获得了多份老化测试板续订订单。

        Multitest的老化测试板(BIB)业务始于2010年,充分发挥其在ATE板设计、制造和组装方面的能力及其测试座和测试方面的技术专知。迄今为止,Multitest已经在20家客户取得了资格,其中包括大型国际IDM。应用范围从4G无线产品、航空航天应用、系统单晶片到微处理器。

        Multitest老化产品小组经验丰富。以公司深厚专业知识为基础,Multitest能够提供足以应对当今挑战的领先老化测试解决方案,比如更短的老化时间或智能老化测试。除了硬件之外,Multitest还为客户提供完整的过程和应用支持。凭借公司的最终测试技术优势,Multitest能开发针对老化测试的定制解决方案。
     


    www.ic72.com 达普IC芯片交易网
  • 行业动态
  • 市场趋势
  • 政策法规
  • 新品发布
  • Baidu

    IC快速检索:abcdefghijklmnopqrstuvwxyz0123456789
    COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
    客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
    (北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
    京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质