网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
搜索关键字: 所有资讯 行业动态 市场趋势 政策法规 新品发布 技术资讯 价格快报 展会资讯
  • 达普IC芯片交易网 > 新闻中心 > 技术资讯 > 正文
  • RSS
  • JDSU新增SAMComplete功能至J-complete测试设备
    http://www.ic72.com 发布时间:2011/4/1 10:21:44

        JDSU对外宣布其已成功通过其新型SAMComplete(自动测试业务激进技术)将ITU-T Y.1564测试功能添加至J-Complete测试设备,其目的主要是为了更好的测试移动回程为了和商务以太网传输业务。

        该SAMComplete测试功能主要针对重复并快速地测试出多项以太网业务,在最短时间内准确地判别出测试结果。J-Complete,作为自动测试工具,JDSU的T-BERD/MTS MSAM以及传输模块也具备其先进的测试功能。

        JDSU通信测试和测量事业部总经理兼副总裁,Dr.Lars Friedrich表示:“随着网络带宽的不断上升,JDSU也一直担任着为业内客户推出领先的网络测试设备的使命。我们此次推出的J-Complete自动测试设备符合网络测试进化标准,Y.1564,因此客户可以在降低运营成本的同时,更快地实现网络测试。”


    www.ic72.com 达普IC芯片交易网
  • 行业动态
  • 市场趋势
  • 政策法规
  • 新品发布
  • Baidu

    IC快速检索:abcdefghijklmnopqrstuvwxyz0123456789
    COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
    客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
    (北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
    京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质