Xradia公司近日宣布推出新款基于实验室使用的计算机断层扫描（CT）系统---UltraXRM-L200，该扫描系统在实验室环境下能提供50纳米分辨率的类似同步的三维成像。UltraXRM-L200是超高分辨率UltraXRM™纳米系列X射线显微镜的最新成员。这款显微镜采用了最初研究用于同步研究装置的最先进的X射线光学组件，以实现实验室环境下的一流分辨率和效率。

    “我们的承诺是不断开发推动研究进步的系统，”Xradia公司创建人、总裁兼首席技术官Wenbing Yun博士表示。“最终，在实验室环境以及在同步装置中，我们在这一领域占有强大的领导地位，我们希望能帮助研究人员专注于他们自己的研究，而不是将他们的时间和资源都花费到打造他们的使用工具上。只有Xradia公司能商业化地供应这一分辨率(50纳米)的X射线CT显微镜。 ”

    Xradia公司的UltraXRM- L200显微镜将一个采用了专利的X射线光学部件的高通量实验室X光光源整合到了一个独立的CT扫描仪中。UltraXRM- L200的应用范围不断增大，包括应用于先进材料的开发、软组织和骨骼的生命科学研究、对岩石孔隙进行研究以分析石油和天然气钻探的可行性模型，以及用于半导体封装失效分析。

    据弗吉尼亚理工大学生物医学成像系教授兼主任Ge Wang博士表示，“Xradia公司的超高分辨率成像系统为我们提供了有关结构内部的详细三维立体数据，并且不需要把相关的区域进行切割或切片---这扩展了所有研究实验室的能力，因为我们可以在各种条件下测试，包括时差(time-lapsed)四维成像。UltraXRM-L200将有助于填补现有的高分辨率成像设备(如 SEM, TEM和AFM)与光学显微镜以及传统的微型电脑成像系统之间的空白。”