“一种用于二代证的检测方法及其设备”日前获得国家发明专利，专利号为ZL2006 1 0089779.4。专利权人为中国电子技术标准化研究所和北京同方微电子有限公司，发明人为王立建、冯敬、袁理、王强、王昆等。

    随着我国第二代居民身份证项目的全面启动，大量的第二代居民身份证面临着一个检测标定的问题。为了保证二代证产品的质量，克服现有检测设备技术上的不足，通过技术攻关，研制了一种使用方面、检测精确的用于第二代居民身份证的检测方法及其设备。该设备能通过对磁场强度、载波频率、调制深度大小的调整实现对第二代居民身份证的电性能检测。同时亦可用于非接触式IC卡的性能分析与标准符合性测试。