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  • 2009年第三届国际测试仪器技术应用论坛
    http://www.ic72.com 发布时间:2009/4/28 11:52:39
    背景介绍

           随着工业生产对自动化依赖性逐渐增加,测试测量技术几乎贯穿了每个自动化生产线的设计、开发与生产的全过程。因此,面向工业的测试测量技术即使面对并不景气的经济形势,依然有广泛而活跃的市场需求。

          工业生产中所需要的各种信息,包括设备工作温度、环境湿度、流程控制、产品监控、质量管理、故障预警和分析等各种信息通过高速数据采集系统可以统一汇总到中央控制台,从而对整个生产自动化流程实现科学化的管理,提高生产效率并节省运营成本。

          有鉴于此,《电子产品世界》将在2009年第三届国际测试仪器及应用技术大会上推出主题为工业测试测量与数据采集技术研讨会,希望能通过选择最新的测试测量仪器产品和测试测量解决方案,为广大参会者带来对测试测量领域的全新了解,并且对他们的实际工作有指导作用。

    工业测试测量

         测试测量作为一项基础技术,在轰轰烈烈的科技变革中一直默默地扮演不可或缺的支撑作用。刚刚结束的北京奥运会,众多测试测量企业纷纷参与其中,在背后默默的保障奥运会的圆满成功。有数据显示,2008年国内电子测试仪器进口量有明显的增长,而中国扩大内需的政府举措更是给测试测量产业提供了发展的巨大空间。论坛的主题包括:自动化测试方案最新技术发展趋势、工业自动化测试测量系统平台设计与解决方案、工业测试总线技术在工业自动化中的应用。

    工业数据采集

         数据采集技术具有极强的通用性,可广泛应用于军事、工业生产、科学研究和日常生活中。随着工业自动化的普及和信息技术的高速发展,数据采集系统在工业应用和日常生活中的应用越来越显著。论坛的主题包括:如何提升工业测试和数据采集系统效率与可靠性、高速数据采集技术在工业自动化中的应用、数据采集模块和产品设计应用方案。

    目标听众

    观众邀请:
          从事测试测量仪器生产、开发、研究的相关工程师、技术人员和管理者。工业自动化系统和数据采集系统设计工程师、测试工程师和现场操作管理人员及企业技术管理者。相关领域的市场分析人员和科研人员以及高校学者。

    时      间:2009年6月2日
    地      点:上海
    主      办:《电子产品世界》杂志社
    支持媒体:《电子设计应用》杂志社

    联系我们

    联系人:杨海涛先生
    联系电话:010-58882867
    电子邮件:ht@eepw.com.cn
    地址:北京复兴路15号138室


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