网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
搜索关键字: 所有资讯 行业动态 市场趋势 政策法规 新品发布 技术资讯 价格快报 展会资讯
  • 达普IC芯片交易网 > 新闻中心 > 厂商动态 > 正文
  • RSS
  • ASML推出创新光刻平台TWINSCANNXT套刻精度及生产能力显著提高
    http://www.ic72.com 发布时间:2008/10/17 11:44:00

      光刻巨头ASML Holding NV (ASML)公司日期推出了创新光刻平台TWINSCAN NXT,套刻精度(overlay)及生产能力(productivity)显著提高,将有力推动半导体制程蓝图的前进。另外,ASML Research Review称,TWINSCAN NXT平台也适用于双图样曝光(double patterning)技术。

      TWINSCAN NXT平台具有创新的晶圆载物台设计,拓展了TWINSCAN系统架构,将有效降低芯片成本。

      晶圆载物台由特殊材料制程,重量大大减轻,别致的设计减少了定位时间。这一平台的生产能力提高了30%以上。

      另外,新的位置测量系统使得晶圆载物台的定位更加精确,从而使得套准精度提高了50%。

      ASML市场技术执行副总裁Martin van den Brink表示,新的平台系统将帮助芯片制造商实现更小尺寸制程。TWINSCAN NXT套刻精度及生产能力大大提高,将能够应用于双图样曝光光刻技术,进行32nm及以下先进制程的量产。


    www.ic72.com 达普IC芯片交易网
  • 行业动态
  • 市场趋势
  • 政策法规
  • 新品发布
  • Baidu

    IC快速检索:abcdefghijklmnopqrstuvwxyz0123456789
    COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
    客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
    (北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
    京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质