网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
搜索关键字: 所有资讯 行业动态 市场趋势 政策法规 新品发布 技术资讯 价格快报 展会资讯
  • 达普IC芯片交易网 > 新闻中心 > 行业动态 > 正文
  • RSS
  • GE传感与检测科技全新便携式涡流探伤仪登场
    http://www.ic72.com 发布时间:2008/9/24 14:50:00

      来自GE传感与检测科技的Pulsec采用了全新的脉冲涡流(PEC)技术来检测次表面的裂纹,尤其适用于航空航天领域。这个便携式涡流探伤仪由电池驱动,在检测飞机多层结构时,它可提供强大的诊断图像和深度分辨率。

      “我们很高兴在GE无损检测解决方案中又添了一员强将:Pulsec脉冲涡流探伤仪。”GE传感与检测科技的涡流解决方案总监Dave Jankowski说到,“脉冲涡流技术可以将机身腐蚀迅速成像,这样就可以大量节省时间完成缺陷定位并修复。”

      Pulsec仅重13磅,电池寿命长达6小时,它是一款真正便携式的探伤仪,可以检测到飞机部件中难以触及的部分。Pulsec具有手持式X编码阵列探头,可以迅速进行表面检测,并对大范围区域直接成像。同时,Pulsec还可以用于检测航空部件多层次表面的腐蚀和裂纹(取决于探头,扫描方式和仪器|仪表配置与设置)。

      Pulsec仪器较宽的频率和深度范围采用了多项GE专利的PEC技术,比传统的涡流技术要强大几倍,因为它能提供许多信息会为后处理显示或做更多分析。同时它具有在每次检查中无需选择特定频率的优势,此外,Pulsec 也可提供比较容易和可靠的重复测试,因为原始脉冲PEC中发现次表面任一腐蚀及裂纹的一个最优化的频率能轻易被识别,并且相应的单元件线圈探头可用于此仪器。

      Pulsec拥有高清晰TFT彩色显示屏|显示器件,提供高质量图像,此外1GB内存和80GB硬盘也可提供强大的实时分析和数据记录及存储。数据及含客户所截图像的报告能通过USB或Ethernet传输做后期数据分析以提高缺陷检出率。

      先进的提离法则允许实时扫描客观情况,如变化的涂层厚度,表面粗糙度和其它原因导致的提离,同时象所有其他涡流仪一样,检测时无需耦合剂,无需和材料直接接触。   


    www.ic72.com 达普IC芯片交易网
  • 行业动态
  • 市场趋势
  • 政策法规
  • 新品发布
  • Baidu

    IC快速检索:abcdefghijklmnopqrstuvwxyz0123456789
    COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
    客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
    (北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
    京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质