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  • SiTest Solutions采用惠瑞捷V5000e进行闪存测试
    http://www.ic72.com 发布时间:2008/9/8 11:54:00

      首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司日前宣布,提供测试工程设计解决方案和服务的领导服务提供商--SiTest Solutions公司已经选择惠瑞捷V5000系列作为闪存测试平台。V5000e将允许SiTest Solutions在不断扩大的一系列功能中增加NAND闪存测试和专用存储器测试功能。

      SiTest Solutions之所以选择V5000e,是因为它提供了完善的集成式解决方案,从发布到大批量生产测试,满足了客户对各种存储器件类型的测试需求。SiTest Solutions已经使用V5000e为16Gb/32Gb固态驱动器(SSD)器件开发一种测试应用,这种器件在一个封装中提供了集成NAND闪存和闪存控制器。通过V5000e,SiTest Solutions明显缩短了开发和器件检定时间,有助于加快SSD器件的大批量生产周期。

      SiTest Solutions公司董事总经理John Ritchie表示:“从测试程序开发和原型器件检定,到推荐ATE测试平台及大批量测试服务顾问,再到全业务请求,如为大批量生产测试转让和安装应用程序,SiTest Solutions提供

      了全系列测试服务。V5000e提供了高性能、最大灵活性、可管理测试成本的理想组合,因此我们可以为广大客户提供闪存测试服务。”

      惠瑞捷半导体科技有限公司销售、服务和支持副总裁Pascal Ronde表示,“在其扩大产品范围、包括存储器测试之际,能够与SiTest Solutions这样的创新服务顾问公司合作,我们感到非常高兴。V5000系列安装群体很大,允许SiTest Solutions及其客户最大限度地利用ATE投资,扩大工程设计服务。”


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