网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
搜索关键字: 所有资讯 行业动态 市场趋势 政策法规 新品发布 技术资讯 价格快报 展会资讯
  • 达普IC芯片交易网 > 新闻中心 > 厂商动态 > 正文
  • RSS
  • 微捷码以新的位图缺陷分析功能加强Knights YieldManager,提高产品良率
    http://www.ic72.com 发布时间:2008/7/21 10:07:00

      芯片设计解决方案供应公司微捷码(Magma)设计自动化有限公司日前宣布其为全世界半导体晶圆制造厂商提供的可定制的良率管理软件系统Knights YieldManager引入了新的重大功能增强。这些增强的功能使晶圆厂的良率管理、缺陷分析、测试和产品工程师们得以收集、关联、分析和分享在线计量数据、测试数据及晶圆厂数据。在对该软件系统的位图模式和位图加载器进行了诸多改善之后,YieldManager用户现在可以更加精确、有效地进行电位图失效与在线计量数据、缺陷数据之间的相关性分析,以提高出片良率及缩短产品入市时间。

      在YieldManager中引入功能增强的位图模块后,它现在可以提供更加完备的缺陷位图分析。YieldManager收集和存储来自不同的测试装置、对各种参数进行测量后得到的更大量和更加丰富的位图数据集。它拥有一个新的更加强大的图形用户界面,配备了很多新的分析和绘图功能,包括把从多个芯片得到的位图进行堆叠的堆叠密度图,以及按照频率进行彩色编码的行失效与列失效。这些应用和新增加的位图分析功能使得辨识失效位模式,把不重要的缺陷和瑕疵与“致命的”缺陷区分开来,以及查明致命缺陷的原因,从而达到提高出片良率等一系列的工作都更加容易了。

      “YieldManager节省工程时间,它通过加速对失效根本原因的分析以及消除在晶圆厂内运行多个客户机-服务器应用软件的必要性,可集中使用资源,” 微捷码公司Fab分析业务部副总裁Ankush Oberai说道。“利用YieldManager新的位图缺陷分析能力,用户可以执行更精确的分析和进一步提高生产力。”


    www.ic72.com 达普IC芯片交易网
  • 行业动态
  • 市场趋势
  • 政策法规
  • 新品发布
  • Baidu

    IC快速检索:abcdefghijklmnopqrstuvwxyz0123456789
    COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
    客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
    (北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
    京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质