网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
搜索关键字: 所有资讯 行业动态 市场趋势 政策法规 新品发布 技术资讯 价格快报 展会资讯
  • 达普IC芯片交易网 > 新闻中心 > 厂商动态 > 正文
  • RSS
  • 致茂电子提供客户全系列LED测试解决方案
    http://www.ic72.com 发布时间:2008/6/10 14:21:00

      国内量测仪器|仪表大厂致茂电子在今年光电周LED展区,针对当今最热门的LED产业推出全系列的制程测试解决方案。由于LED具备轻巧、节能、环保、耐用、高亮度等多种优异特性下,逐渐在各个产业的应用上崭露头角。以LED的制程来说,从上游的磊晶(EPI)、中游的晶粒(Chip Process)、到下游的封装(Package),即可完成一个LED模组,并可多样化地发挥在资讯显示、光源、照明、通讯传输、遥控感测等功能应用上,市场规模相当庞大。

      致茂电子所开发的LED测试设备是应用于中游晶片切割前后及晶粒扩张前后,针对晶粒的电性、光学及静电放电(ESD)测试,并可结合点测机(LED Wafer/Chip Prober)的人性化操作介面,轻松快速地检测led晶片及晶粒。针对现在最火热的背光源(light bar)应用,致茂已推出系列机种,能量测light bar模组之电性与光学特性。除此之外,为满足客户不同需求,致茂提供各种客制化的LED电性、光学测试设备,降低制造成本,提高客户在同业的竞争力。


    www.ic72.com 达普IC芯片交易网
  • 行业动态
  • 市场趋势
  • 政策法规
  • 新品发布
  • Baidu

    IC快速检索:abcdefghijklmnopqrstuvwxyz0123456789
    COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
    客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
    (北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
    京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质