网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
搜索关键字: 所有资讯 行业动态 市场趋势 政策法规 新品发布 技术资讯 价格快报 展会资讯
  • 达普IC芯片交易网 > 新闻中心 > 科技成果 > 正文
  • RSS
  • Mirtec公司在上海NEPCON China上展示领先的AOI解决方案
    http://www.ic72.com 发布时间:2008/4/9 10:34:00

      全球领先的AOI和AXI检测系统制造商MIRTEC公司日前宣布,在2008年4月8-11日中国上海举办的NEPCON China/EMT China 2008展览会上,它将在第4F10号展台展示全系列检测解决方案。

      MV-3L桌面AOI系统是“世界上第一个”五架摄像机的桌面AOI系统。在全面配置时,MV-3L提供了一架从上到下的摄像机及4架侧景摄像机。每架摄像机提供的基本分辨率是两百万像素(1600 x 1200)。该系统已获专利的“四角照明系统”提供了四个独立可编程区域,以最优方式为检测区域照明。它在APEX期间将展示两款MV-3L系统:一款带有三维波束激光系统,另一款带有下一代标记系统。

      MV-3L带有革命性的Intelli-Beam激光系统,提供了“检测功能中的第三个维度”,能够精确地测量一定相关区域中的Z高度。这种先进技术提供了四点高度测量功能,对BGA和CSP器件进行共面测试,另外它还提供了增强的锡膏
    测量功能。

      在全面配置时,MV-7L在线AOI系统 提供了一架从上而下的摄像机,基本分辨率是四百万像素(2,048 x 2,048);以及4架侧景摄像机,基本分辨率为两百万像素(1,600 x 1,200)。该系统已获专利的“四角照明系统”提供了四个独立可编程区域,以最优方式为检测区域照明。在APEX上展示的MV-7L将采用高吞吐量三阶段pcb传送带及一个PCB电路板底侧支撑系统。

      革命性的Intelli-Beam激光系统,提供了“检测功能中的第三个维度”,能够精确地测量一定相关区域中的Z高度。这种先进技术为欧翼器件提供了杰出的引线上抬检测功能,提供了四点高度测量功能,对BGA和CSP器件进行共面测试,另外它还提供了增强的锡膏测量功能。

      Mirtec还将展示MV-6L在线AOI系统 ,其中采用先进的两百万像素数字彩色摄像机技术。这种先进技术提供了最优异的检测性能和速度,并可以选配Side Viewer®摄像机系统,通过增加四架“两百万像素”侧景数字彩色摄像机,增强检测功能。

      MV-6L Duo在线系统并排提供两个检测站。第一个自动机械装置纯粹配置给视觉检测,第二个自动机构装置则配有Intelli-Scan系统,用于激光PCB检测。通过这种方式,MV-6L Duo系统可以以最大生产速率实现杰出的PCB检测能力。

      最后,Mirtec将演示MX-9C自动X射线检测机。这一系统为BGA和CSP器件相关缺陷提供了杰出的实时X射线检测功能。该系统采用强大而又使用简单的软件。自动教学软件提供了快速AXI编程功能。软件界面可以同时显示多个图像,并通过简单的方法捕获额外的样品图像。


    www.ic72.com 达普IC芯片交易网
  • 行业动态
  • 市场趋势
  • 政策法规
  • 新品发布
  • Baidu

    IC快速检索:abcdefghijklmnopqrstuvwxyz0123456789
    COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
    客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
    (北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
    京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质