网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
搜索关键字: 所有资讯 行业动态 市场趋势 政策法规 新品发布 技术资讯 价格快报 展会资讯
  • 达普IC芯片交易网 > 新闻中心 > 预测分析 > 正文
  • RSS
  • Seica宣布未来飞针测试时代已经到来
    http://www.ic72.com 发布时间:2008/4/1 9:33:00

      从4月1号至3号举办的"IPC印制电路板展览会暨设计者高峰会",Seica宣布未来飞针测试时代已经到来,并且将在205展位上以最新设计的Pilot V8作为展示代表。这是飞针测试机系列中最新添加的一员,但是它从根本上区别于传统的飞针测试机。因此它被归类到2008 IPC印制电路板展览会暨设计者高峰会的创新技术中心(ITC)。Pilot V8代表了"双面"飞针测试的一项重大的技术革新:它独特的立式结构使得探针能高速,精确地正反面同时探测UUT,并以紧凑和特别人性化的形式提供最大的测试覆盖率和灵活性。配备有8个测试飞针(正反面各4个), 2个电容效应的Openfix探头, 2个电源|稳压器飞针,再加上2个CCD摄像头(正反面各1个)。Pilot V8 具有14个移动部件,测试UUT能力发挥到极至,可完成全面的在线测试以及功能测试。并且,它像Seica 其他飞针测试方案一样,也可以实现一系列"面向网络"的测量技术,即基于电路板不同信号网络的测量。这些新的测试方法,实现了减少测试的次数,(例如通过测试的整个网络中的元件将无需测试)通很大程度地减少了在线测试所需时间,并且可以保证同样水准的错误覆盖率和诊断信息。移动的电源探针是另一项重大革新,使得无需额外的固定线缆也可以加电UUT,由此功能测试也能简单完成。

      Seica的 Pilot V8 也可以执行并行测试,即同时测试两块UUT,与4个探针的系统相比翻倍了测试能力。Pilot V8,就像Seica所有产品一样,是基于Seica的VIPTM平台,创新的VIVA软件优化了测试程序开发时间,测试执行时间以及错误覆盖率,并且以直观、自解说的环境引导用户完成一系列的自动操作,极大地减少了编程时间并事实上消除了错误和漏测的可能性。

      参观者在Seica的展位上也可以看到另一款VIP(tm) 系统Aerial M4. 这个高性能双面飞针测试机也采用立式结构,配有4个探针(正反面各2个),2个额外的Openfix探头以及2个摄像头(正反面各一个),成为广泛多样的测试需求的最佳解决方案。Seica将展示最新的VIVA平台,特别是维修工程将被展示,包含易于理解的图象化显示测试结果、错误定位和维修的软件环境; 其他一些有用的数据采集五金|工具和维修操作也将被示范。


    www.ic72.com 达普IC芯片交易网
  • 行业动态
  • 市场趋势
  • 政策法规
  • 新品发布
  • Baidu

    IC快速检索:abcdefghijklmnopqrstuvwxyz0123456789
    COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
    客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
    (北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
    京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质