全球领先的薄膜测量和宏缺陷检测设备供应商Rudolph Technologies和全球著名的芯片制造联盟SEMATECH日前宣布Rudolph成为加入SEMATECH度量项目的首个半导体设备供应商，该项目由美国Albany的CNSE（College of Nanoscale Science and Engineering）牵头。

　　根据协议，Rudolph和SEMATECH将共同建立一个国际工艺表征（International Process Characterization，IPC）项目，旨在研究工艺的开发、分析和表征技术，以解决纳米电子研究中的挑战。