网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
搜索关键字: 所有资讯 行业动态 市场趋势 政策法规 新品发布 技术资讯 价格快报 展会资讯
  • 达普IC芯片交易网 > 新闻中心 > 最新产品 > 正文
  • RSS
  • Smiths Detection推出全新一代便携式痕量检测系统
    http://www.ic72.com 发布时间:2007/12/17 10:48:21
      作为全球顶级的X射线及痕量检测设备供货商,Smiths Detection公司宣布推出下一代便携式痕量检测系统——Ionscan 500DT。该型仪器可同时检测超过40种毒品和40种爆炸物。

      Ionscan 500DT采用了双离子迁移光谱(IMS)检测器,检测下限可达亚纳克级,一次样品检测时间不到8秒。两套独立可控IMS检测器配置于同一系统中,分别针对爆炸物和毒品同时检测,从而减少了相互的干扰。

      Ionscan 500DT在设计过程中运用了人机工程学的概念,配有一个可触摸式彩色大屏幕,内置打印机和40GB的内置硬盘。先进的取样棒装置使得操作者每次分析测试后无需再用一个样品拭子进行擦拭。

      该型仪器可广泛应用于机场、港口、边境检查站、公共建筑及私人住宅等。


    www.ic72.com 达普IC芯片交易网
  • 行业动态
  • 市场趋势
  • 政策法规
  • 新品发布
  • Baidu

    IC快速检索:abcdefghijklmnopqrstuvwxyz0123456789
    COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
    客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
    (北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
    京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质