FormFactor日前发表Harmony全区12吋晶圆针测解决方案的最新成员 –Harmony 晶圆级预烧（Wafer-Level Burn-In；WLBI）探针卡。Harmony WLBI 探针卡不仅能提高作业流量，还能确保半导体组件的质量与可靠度。Harmony WLBI 探针卡奠定一个新的里程碑，不仅一次能接触约4万个测试焊垫，还能在高温（最高达摄氏130度）下测试整片12吋晶圆。这项能力协助IC制造以更低的测试成本，达到可靠性与效能方面的要求。

　　FormFactor已向多家客户供应Harmony单次接触WLBI探针卡，针对各种尖端DRAM组件进行可靠性测试。运用FormFactor的Harmony WLBI探针卡，得以倍增处理流量，并能协助缩短产品上市时程。

　　Harmony WLBI 探针卡结合各种先进的电子组件以及新型3D MEMS MicroSpring 接触器，能承受高温的预烧测试，降低清理的次数–并进一步提高探针卡的可用度以及测试组件的生产力。FormFactor专利技术还能增加同时测试晶粒的数量，运用现有的测试设备资源，协助制造商把持续折旧的测试设备，发挥出最高的效益。

　　Harmony WLBI 是FormFactor确保合格裸晶（known good die）专属探针卡解决方案的一个重要组件，这类组件必须进行测试、确定符合规格后才能进行封装。确保合格裸晶的应用范例包括手机与可携式媒体播放器，这类产品会把多种组件整合至一个系统级封装（SiP）芯片或多芯片封装(MCP)。

　　FormFactor公司副总裁暨DRAM产品事业群总经理Ofer Bokobza表示：“消费性产品市场非常注重时间，业者面临极短暂的设计周期。上市时程每延迟一天，制造商就面临数百万美元的损失。FormFactor Harmony WLBI 探针卡解决方案提供最高的处理流量，这项关键特色协助我们顾客缩短产品上市时程。此外，单次接触预烧产品的效率，协助我们的顾客能转移至更可靠的测试系统，进入晶圆级的领域，以进一步确保合格裸晶（KGD）的应用。”

　　FormFactor 现已开始接受Harmony WLBI 探针卡的订单。