半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(Verigy Ltd.)针对65纳米和更小制程所生产的数字IC的晶圆测试(Wafer Sort)及终程测试(Final Test)，推出可执行结构及功能测试的V93000纳米电子数字信号测试解决方案(Nanoelectronics Digital Solution)。新设计将能大大受惠于这套解决方案提供的深入信息，且测试的效率极高，能以最低的测试成本(CoT)，加快产品的上市时间。

    可插入惠瑞捷V93000测试头使用的单槽模块卡每平方公分包含的功能居有助于缩小测试系统的体积和降低成本。V93000纳米电子数字信号测试解决方案包含下列以超小型测试头为基础的配置：

• Pin Scale 400数字信号测量模块卡，可将DC IO提高到533Mbps；
• 整合式大量故障数据采集能力和超快速的数据传输速度；
• DC Scale DPS32——每片模块卡内建32个测量通道，可同时测试多个组件的多个功耗域(Power Domain)、以及进行快速的同步触发，以提高稳定一致性和提供最快的测量速度；
• STIL连结软件套件；
• 每支管脚都整合了TIA